New-Tech Magazine | April 2017

ככל האפשר, כיוון שזה מפחית את ההשפעות של ההשראות במעגל מדידה. דבר זה חשוב במיוחד עבור מדידות קיבול הנעשות בתדרי בדיקה גבוהים. בכדי להפחית את ההשפעות של קיבול הכבל, יש חשיבות גם לבצע "תיקון כבל" ע"י הפעלת . נהלים פשוטים OPEN וכיול SHORT כיול של מדריך העזר השלם 15 אלה נדונים בסעיף .4200- CSC של מערכת בהתחשב בכך כי הקיבול של התא קשור ישירות למידות שטח ההתקן, ייתכן שיהיה צורך לצמצם את השטח, אם אפשרי, כדי למנוע קיבולים העלולים להיות גבוהים מדי למדידה. לבדיקת קיבול בתדר 4200- CVU כמו כן, כיוון ) ו/או מתח דחיפה 10 KHz בדיקה נמוך יותר ( נמוך יותר, יאפשר ביצוע מדידות של AC קיבול גבוה יותר. הן במקדם-קדומני והן C - V ניתן לבצע מדידת במקדם-אחורני. עם זאת, כאשר התא מופעל במקדם-קדומני יש צורך להגביל את המתח מופעל עליו; אחרת, הולכת התא תהייה DC המרבי לא יכול להיות DC גבוהה מדי. זרם ה- לא DC ; אחרת, מוצא מתח ה- 10 mA גדול מ- יהיה ברמה הרצויה. של תא סולארי C - V . ממחיש עקומת 11 איור , באמצעות 4200- CVU סיליקון שנוצר על ידי ". בדיקה זאת בוצעה בתנאי cvsweep מודול " חושך, תוך הפעלת התא במקדם-אחורני. , רצוי לעיתים dC / dV במקום לבצע תרשים . ניתן לגזור V כנגד 1/ C 2 להציג את הנתונים כ- את צפיפות האילוח מן השיפוע של עקומה יחסית לקיבול בהתאם ל: N זאת, משום ש- N ) a (=2/) qE s A 2 ] d )1/ C 2 (/ dV [( כאשר: )1/ cm 3 צפיפות האילוח ( = N ) a ( )1.60219 x 10 -19 C מטען האלקטרון ( = q מקדם הדיאלקטרי של המוליך- = E s עבור סיליקון) 1.034 x 10 -12 F / cm ( ) cm 2 שטח ( = A

« של תא סולארי C-f מחי .13 איור

) Farad הקיבול הנמדד ( = C ) Volt המופעל ( DC מתח ה- = V

לכוון את טווח של תדר המחי, כמו גם את מתח המקדם.

ניתן לגזור את המתח המובנה של צומת התא עם הציר 1/ C 2 מתוך ההצטלבות של עקומת האופקי. תרשים זה עשוי להיות קו ישר למדי. 4200- CVU עקומה בפועל, אשר הופקה ע"י . תרשים זה נוצר באמצעות 12 מוצגת באיור ". ניתן להשתמש באופציית C -2 vsV מודול " התרשים "התאמה ליניארית לקוו" לחישוב ) והמתח המובנה על ציר N צפיפות האילוח ( . צפיפות האילוח מחושבת כפונקציה של x ה- ומופיע על החוצץ Formulator מתח בתוך ה- של הגיליון, בתוך המודול. המשתמש מציין את השטח ההתקן באיזור . Formulator הקבועים של ה- C-f מחי יכול גם למדוד קיבול כפונקציה 4200- CVU . נוצרה על ידי 13 של התדר. העקומה באיור ". המשתמש יכול Cfsweep שימוש במודול "

סיכום מדידת המאפיינים החשמליים של תאים סולאריים היא קריטית לקביעת הביצועים והיעילות של מוצא ההתקן. מפשט את 4200- CSC השימוש במערכת I - V בדיקות התא על ידי מיכון של מדידות ומספק יכולות גרפיות וניתוחיות. C - V ו- 4200- בנוסף לבדיקות שתוארו כאן, מערכת יכולה לשמש גם לביצוע מדידות של CSC התנגדות סגולית של החומרים המשמשים . PV לייצור תאי הכתבה נערכה והוגשה ע"י חברת וחברת דן-אל טכנולוגיות, Keithley בע"מ הנציגה הבלעדית של החברה בישראל.

www.danel.co.il | E-mail: Reine@danel.co.il 054-6657905 : , נייד 03-9271666 : ,פקס 03-9271888 :‘ טל | 4095 , פתח-תקוה ת.ד 1 רח‘ האופן

APx52xSeriesModular,Two-and Four-ChannelPerformanceAudioAnalyzers

The ideal balance of analog performance and breadth of digital i/o

Measurement Microphones

APx1701 Transducer Test Interface

www.danel.co.il | E-mail: reine@danel.co.il 054-6657905 : , נייד 03-9271666 : ,פקס 03-9271888 :‘ טל | 4095 , פתח-תקוה ת.ד 1 רח‘ האופן

45 l New-Tech Magazine